Call us:

phone

+390187934112

email:

phone

ctssp@ctssp.com

JEOL JMS IT 500-LA: MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) a pressione variabile con sistema di microanalisi EDS integrato JOEL

News & Blog1 comment

JEOL JMS IT 500-LA: MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) a pressione variabile con sistema di microanalisi EDS integrato JOEL

JEOL JMS IT 500-LAMICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) a pressione variabile con sistema di microanalisi EDS integrato JOEL

Questa nuova macchina, di cui il nostro laboratorio si è dotata, rappresenta l’avanguardia nel settore della microscopia elettronica a scansione. Mediante questo strumento siamo in grado di offrire indagini ad altissima risoluzione anche di campioni biologici senza metallizzazione o isolanti. La sua tecnologia prevede l’osservazione del campione come pervenuto (a meno di pulizie senza particolari preparazioni) per indagine morfologica o dopo inglobamento per un’analisi a grande dettaglio della microstruttura. Inoltre, altro impiego correlato è quello di impiegare il sistema di microsonda per una caratterizzazione qualitativa della composizione chimica mediante il detector integrato.

Tra le caratteristiche di spicco il JSM IT 500-LA presenta:

  1. Sistema a pressione variabile che permette di lavorare tra uno standard high vacuum mode (10-4 Pa) e un low vacuum set (tra 10 e 650 Pa)
  2. Dimensioni della camera e capacità di alloggio particolarmente prestanti e che permettono di analizzare campioni sino a 200 mm ø e 2 kg
  3. Sonda microanalisi EDS integrata JEOL con detector di 25 mm2

Insomma una macchina all’avanguardia, al momento tra le poche in distribuzione.

METALLOGRAFIA – FAIULURE ANALYSIS – CONTROLLI QUALITA’ da oggi più veloci e precise. Da sempre il nostro laboratorio ha avuto particolare attenzione all’aggiornamento professionale e tecnologico del proprio personale e delle attrezzature a disposizione. Tutto questo per offrire le migliori soluzioni ai nostri clienti.