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Lo stato dell’arte nella microscopia elettronica a scansione al vostro servizio: failure analysis e controllo qualità da oggi più veloci e precise da C.T.S.

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Lo stato dell’arte nella microscopia elettronica a scansione al vostro servizio: failure analysis e controllo qualità da oggi più veloci e precise da C.T.S.

Failure analysis e controllo qualità da oggi più veloci e precise grazie alla nuova macchina arrivata : il MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM) a pressione variabile con sistema di microanalisi EDS integrato JOEL.

JEOL JMS IT 500-LA rappresenta l’avanguardia nel settore della microscopia elettronica a scansione. Mediante questo strumento siamo in grado di offrire indagini ad altissima risoluzione anche di campioni biologici senza metallizzazione o isolanti.

Tra le caratteristiche di spicco il JSM IT 500-LA presenta:

  1. Sistema a pressione variabile che permette di lavorare tra uno standard high vacuum mode (10-4 Pa) e un low vacuum set (tra 10 e 650 Pa)
  2. Dimensioni della camera e capacità di alloggio particolarmente prestanti e che permettono di analizzare campioni sino a 200 mm ø e 2 kg
  3. Sonda microanalisi EDS integrata JEOL con detector di 25 mm2

Insomma una macchina all’avanguardia, al momento tra le poche in distribuzione.
Da sempre il nostro laboratorio ha avuto particolare attenzione all’aggiornamento professionale e tecnologico del proprio personale e delle attrezzature a disposizione. Tutto questo per offrire le migliori soluzioni ai nostri clienti.

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